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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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型號(hào)：HCLD-III

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控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品測(cè)試儀器HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計(jì)制造。
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HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)量?jī)x器

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型號(hào)：HCLD-III

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固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)量?jī)x器，是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀

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電工電子高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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