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功能材料測試儀器

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TF Analyzer 2000E國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：TF Analyzer 2000E

瀏覽量：4417

TF ANALYZER 2000E鐵電壓電分析儀/測試儀器是一款擴(kuò)展性高的速型模塊化鐵電壓電分析儀，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測試儀器
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TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號：TF Analyzer 1000

瀏覽量：1997

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測試。
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高溫退火爐測試儀器

更新時(shí)間：2023-08-11

型號：

瀏覽量：3123

高溫退火爐測試儀器加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實(shí)現(xiàn)溫度的測量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。
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華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-10-17

型號：

瀏覽量：2209

華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀，為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。主要應(yīng)用于應(yīng)用領(lǐng)域：復(fù)合絕緣擦亮、高分子絕緣材料、無機(jī)絕緣材料、有機(jī)絕緣材料、其它絕緣材料等。
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HPZT-200壓電系數(shù)測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-04

型號：HPZT-200

瀏覽量：2265

壓電系數(shù)測試儀器除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外，還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
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熱激勵(lì)去極化電流測量系統(tǒng)/測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號：

瀏覽量：1703

熱激勵(lì)去極化電流測量系統(tǒng)/測試儀器是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。
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AMR-UD導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-07-23

型號：AMR-UD

瀏覽量：2490

導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下，采用4端子測試法對焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體進(jìn)行多通道微小電阻連續(xù)測量，以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測量記錄數(shù)據(jù)，圖表化微小電阻變化及試驗(yàn)箱溫度變化，可通過LAN進(jìn)行數(shù)據(jù)處理
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絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：2949

面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測，簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
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